English
THIẾT BỊ KIỂM TRA ĐIỆN TRỞ CÁCH ĐIỆN PIN BT5525
Phát hiện sự nhiễm bẩn có thể gây ra lỗi. Cải thiện hiệu suất cell pin thông qua thử nghiệm tốc độ cao.
BT5525 có thể ngăn chặn việc vận chuyển pin lỗi tiềm ẩn rủi ro có thể dẫn đến hỏa hoạn.Đây là phần giới thiệu về các chức năng của “THIẾT BỊ KIỂM TRA CÁCH ĐIỆN PIN BT5525” mới cho dây chuyền sản xuất pin. Chức năng BDD, theo dõi điện áp, dòng điện nhỏ và phát hiện các chất lạ lẫn trong quá trình sản xuất và phần mềm ứng dụng tiện lợi cho phép bạn xem dạng sóng, sẽ được giải thích trong khi đo thực tế !
Các tính năng chính của thiết bị kiểm tra cách điện pin BT5525
Lý tưởng cho dây chuyền sản xuất pin.
Chức năng BDD để phát hiện các đoản mạch nhỏ do nhiễm bẩn trước khi pin được vận chuyển.
Kiểm tra độ bền cách điện ổn định ngay cả trong môi trường nhiễu.
Giá thành hợp lý, tốc độ thử nghiệm cao và thiết kế nhỏ gọn.
Chức năng kiểm tra tiếp xúc giúp giảm thiểu việc đánh giá nhầm kết quả do thiết bị gây ra.
Phát hiện các lỗi cách điện nhỏ do nhiễm tạp chất (chức năng Break Down Detect)
Chức năng BDD là một chức năng kiểm tra độc quyền có thể phát hiện hiện tượng đoản mạch cực nhỏ bên trong do nhiễm bẩn (với chất kim loại) ở giai đoạn trước khi các cell pin được đổ đầy chất điện phân. Bằng cách xác định và loại bỏ các bộ phận bị lỗi ở giai đoạn đầu của quá trình sản xuất, chức năng BDD giúp ngăn ngừa nguy cơ rủi ro như hỏa hoạn và tai nạn do sinh nhiệt sau khi vận chuyển pin. Ngoài ra, hiện tượng đoản mạch cực nhỏ bên trong cell làm tăng tốc độ giảm tuổi thọ của pin. Chức năng BDD sẽ góp phần sản xuất pin có độ bền và hiệu suất điện cao hơn.
Kiểm tra độ bền cách điện ổn định, ngay cả trong môi trường nhiễu
Hioki đã thành công trong việc giảm thiểu đáng kể ảnh hưởng của nhiễu bên ngoài bằng cách dựa trên công nghệ đo điện trở của máy đo điện trở cách nhiệt và chuyên môn thiết kế được trau dồi trong nhiều năm.Do đó, BT5525 có thể thực hiện thử nghiệm điện trở cách điện ổn định, không biến đổi ở mức chất lượng cho phép phát hiện các đoản mạch bên trong do nhiễm bẩn.
Ngăn chặn việc làm sai thử nghiệm do các phán đoán sai lầm
BT5525 cung cấp chức năng kiểm tra tiếp điểm để xác định xem thiết bị có tiếp xúc thích hợp với mạch được thử nghiệm hay không bằng cách đo điện dung giữa các đầu cực đo (điện dung lạc và điện dung của mạch được thử nghiệm).
Giảm thiểu rủi ro khi vận chuyển pin lỗi dẫn đến hỏa hoạn.
Phát hiện
Sự Ngắn Mạch
Giảm
hiện tượng nhiễu
Ngăn ngừa
sự nhận diện sai
Chức năng giới hạn dòng
Có thể giới hạn dòng sạc cho các cell pin chỉ định từ 50 μA đến 50 mA. Chức năng này có thể rút ngắn thời gian sạc khi có điện dung giữa các cực thử nghiệm hoặc trong mạch được thử nghiệm.
Chức năng tự động ngắt sạc
Ngăn ngừa hư hỏng cho các thiết bị khác trong quá trình thử nghiệm tiếp theo bằng cách xả mọi điện tích tích lũy trong mạch được thử nghiệm trong thiết bị sau khi thử nghiệm. Quá trình phóng điện xảy ra ở 40 mA hoặc cao hơn sau khi quá trình đo hoàn tất.
Ghi nhớ điều kiện đo
Lưu trữ các điều kiện đo lường trong bộ nhớ của thiết bị để sử dụng lại trong tương lai khi cần thiết. Có thể lưu trữ tối đa 15 bộ điều kiện đo lường. Các điều kiện đã lưu vẫn tồn tại ngay cả khi tắt nguồn thiết bị.
Chức năng so sánh
Thực hiện đánh giá đạt/ không đạt tự động dựa trên các giá trị giới hạn trên và dưới của tiêu chuẩn đánh giá do người dùng đặt. Một âm báo bíp được sử dụng để thông báo cho người dùng về kết quả phán đoán. Phạm vi cài đặt là 0,000 MΩ đến 9999 MΩ.
Chức năng đặt thời gian đo
Cho phép người dùng đặt thời gian đặt điện áp thử nghiệm từ 0,050 s đến 999,999 s. Thời gian có thể được đặt theo gia số 0,001 giây.
Tự động điều chỉnh dải đo
Tự động chọn dải đo dựa trên giá trị điện trở cách điện đo được. Có sẵn các phạm vi đo sau: 2 MΩ, 20 MΩ, 200 MΩ và 2000 MΩ.
Tốc độ đo
nhanh
Thiết kế
NHỏ gọn
Giá cả
phải chăng
Lý tưởng để kiểm tra điện trở cách điện trước khi làm đầy chất điện phân của pin
BT5525 kiểm tra độ cách điện giữa các điện cực trước khi các cell pin được đổ đầy chất điện phân. Điện áp thử nghiệm tối đa của nó là 500 V. Nếu các điều kiện thử nghiệm nhất định được thỏa mãn, nó cũng có thể thực hiện thử nghiệm cách điện giữa các điện cực của mô-đun / gói và vỏ bọc.
Rút ngắn thời gian chu kỳ thử nghiệm
với dòng sạc tối đa 50 mA
BT5525 có tính năng sạc tốc độ cao lên đến 50 mA và xả tốc độ cao sạc dư ở 40 mA. Hiệu suất sạc và xả được cải thiện đáng kể của thiết bị giúp tăng tốc độ thử nghiệm, tăng tốc sạc lên khoảng 25 lần so với các mẫu trước đó và xả khoảng 4 lần. Bằng cách này, nó có thể rút ngắn thời gian thử nghiệm điện trở cách điện đối với pin mà các nhà sản xuất đang sản xuất ở mức công suất ngày càng cao.* So với MÁY KIỂM TRA CÁCH NHIỆT ST5520 của Hioki.
Thiết kế nhỏ gọn giúp dễ dàng tích hợp
BT5525 vào các hệ thống khác
Dựa trên kinh nghiệm nhiều năm trong lĩnh vực thiết kế sản phẩm, Hioki đã mang lại hiệu suất cao với thiết kế nhỏ gọn. Thiết bị có thể được tích hợp vào các hệ thống thử nghiệm, cho phép giảm kích thước của chúng. Các nhà sản xuất có thể triển khai các hệ thống thử nghiệm nhỏ gọn để tận dụng tối đa không gian sản xuất hạn chế.
Đầu tư vào chất lượng
với chi phí hợp lý
Chức năng và hiệu suất của BT5525 làm cho nó trở thành một giải pháp tiết kiệm chi phí do đã cân nhắc kỹ lưỡng các yêu cầu của thử nghiệm điện trở cách điện của pin. Các dao động về điện áp và dòng điện trong quá trình thử nghiệm điện trở cách điện có thể được xem bằng ứng dụng PC chuyên dụng.Thiết bị có thể tạo ra điện áp thử nghiệm lên đến 500 V. Thiết bị đáp ứng các điều kiện thử nghiệm điện trở cách điện cho mọi thứ, từ pin lớn được sử dụng trong xe điện (EV) đến các tế bào pin nhỏ.
Ứng dụng PC
để phân tích dạng sóng
Phần mềm ứng dụng miễn phí của Hioki có thể được sử dụng để xem xét sự dao động của điện áp và dòng điện.Khả năng xem xét các dạng sóng có thể hữu ích khi phân tích kết quả thử nghiệm và khi xác định các giá trị tham chiếu phán đoán cho các đường thử nghiệm.Vì dữ liệu có thể được xuất ra ở định dạng CSV, nên các dạng sóng cũng có thể được xem xét trong các ứng dụng khác, ví dụ như Excel.
